使用吉时利4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪） 加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是业内性能领先电学特性半导体参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和超快脉冲IV曲线测量。
推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导，并让您对最终结果充满信息。
特点
用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件
使用吉时利最新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业领先的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
同类产品中首款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量
测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得最准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
特点
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行 飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
降低成本并保护您的投资
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
| 产品技术资料 | 型号 | 描述 | 价格 |
|---|---|---|---|
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4211-SMU：两个用于高容量设置的高功率 SMU 4200-PA：两个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用尖端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：
| 索取报价 |
